Атомно-силовой микроскоп нанотоп-207М
Прибор предназначен для изучения топографии, сил адгезии, трения и упругих свойств поверхности. Область применения прибора: физика твердого тела; технология тонких пленок, материаловедение. Отображение результатов эксперимента и управление прибором осуществляется с помощью программы, работающей в среде WindowsXX.
Ближайшим аналогом прибора является атомно-силовой микроскоп производства NTMDT Pioner (Россия). При идентичных технических характеристиках НАНОТОП-207М отличается повышенной нагрузочной способностью столика образцов (до 100 г) и большей площадью сканирования, что позволяет и спользовать его не только в лабораторной практике, но и при инспекции деталей различного назначения в промышленности.
Основные технические характеристики прибора
Свойство | Показатель |
---|---|
Разрешение прибора (гор/верт), nm | 2/0.2 |
Площадь сканирования (макс), µm | 28х28 |
Размеры образца (макс), mm | 30х20х8 |
Режим работы |
Контактный (топография, силы трения) Динамический (топография, фаз. контраст) Спектроскопия поверхностных сил |
Прибор установлен:
- ИММС НАН Беларуси,
- KITEC,
- KIST 2 прибора,
- LG 2 прибора (Ю. Корея),
- ENISE (Франция),
- ФГУП ВИАМ (Российская Федерация).
Форма сотрудничества — продажа готового продукта.