НАЦИОНАЛЬНАЯ АКАДЕМИЯ НАУК БЕЛАРУСИ

Институт механики металлополимерных систем имени В.А. Белого

Белорусский республиканский центр зондовой микроскопии

Центр аттестован Экспертным советом по развитию материально-технической базы Национальной академии наук Беларуси.

E-mail: mpri@mail.ru
Телефон: +375 (232) 34 06 27 
Fax: +375 (232) 34 17 11

Основная область деятельности «Белорусского республиканского центра зондовой микроскопии» (БелЦЗМ) – исследование поверхности методами сканирующей зондовой, растровой электронной, оптической микроскопии.

НАПРАВЛЕНИЕ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ

  • исследование поверхности образцов методами сканирующей зондовой, растровой электронной, оптической микроскопии с использованием имеющихся уникальных приборов;
  • предоставление исследователям и исследовательским группам доступа к уникальному высокотехнологическому оборудованию для анализа поверхности;
  • методическое обеспечение измерений с помощью сканирующих зондовых, растрового электронного и оптического микроскопов;
  • отработка и реализация современных и перспективных методик сканирующей зондовой, растровой электронной и оптической микроскопий.

ОСНОВНЫЕ МЕТОДИКИ

  • контактный режим - топография, силы трения;
  • динамический режим - топография, фазовый контраст;
  • спектроскопия поверхностных сил;
  • подготовка поверхности образцов для проведения исследований РЭМ;
  • проведение линейных измерений в диапазоне 10-6…10-9м с использованием АСМ;
  • проведение линейных измерений в диапазоне 10-3…10-9м с использованием РЭМ;
  • энергодисперсионный элементный микроанализ состава и концентрации в образце;
  • определение качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов с использованием рентгеновского дифрактометра;
  • измерение высотно-шаговых параметров неровностей шероховатых поверхностей.

ОБОРУДОВАНИЕ

  • Атомно-силовой микроскоп Solver P47 Н. Назначение: атомно-силовая микроскопия в динамическом бесконтактном/смешанном режиме с возможностью получения изображений фазового контраста (картографирование микромеханических свойств поверхности). Размер образца -  100х100х20мм. Сканеры  -  50х50х2,5мкм (±10%). Минимальный шаг сканирования  - 0,006нм, 0,01нм, 0,015нм, 0,009нм. Способ сканирования  -  пьезотрубка. Система контроля и управления  -  СЗМ контроллер. Вибрационная изоляция -  активный виброизолирующий стол.
  • Растровый электронный микроскоп VEGA II LSH с системой энергодисперсионного элементного микроанализа INCA ENERGY 250 ADD. Назначение:для получения цифровых изображений и элементного микроанализа исследуемых поверхностей. Разрешение – 3нм, Увеличение – 4-1000000 раз. Размер кадра – 4096х4096 (макс). Режим работы  -  SE, BE. Стол образцов – моторизированный Х=40 мм,Y=40 мм, Z=47 мм. Детектор Si(Li), разрешение 137эВ, площадь кристалла 10 мм², SATW окно (анализ элементов от B (бор) до U (уран) ;
  • Рентгеновский многофункциональный дифрактометр GNR APD 2000 PRO;
  • Вторично-ионный масс-спектрометр МС–7201;
  • Микроскоп оптический Olympus TH4-200;;
  • Профилометр оптический интерферометрический ПОИ-08;
  • Микротвердомер ПМТ-3М.
  • ИК-Фурье спектрометр NICOLET 5700 FT-IR. Предназначен для проведения детальных ИК- исследований в полимерном материаловедении, химии, технологии полимеров, анализе газов и др. Спектральный диапазон 7800-50 см-1, разрешение 0,09 см-1, соотношение сигнал-шум 40000:1 (пик к пику), точность по волновому числу 0,01 см-1, динамическая настройка интерферометра и автоматическая оптимизация энергии излучения, герметичная оптическая система, источник ИК излучения с контролем температуры ETC EverGlo™ для среднего и дальнего ИК-диапазона (9,600-20 см-1), возможность вывода до 5 внешних лучей для подключения внешних устройств (ИК-микроскоп, дериватограф и др.), скорость сканирования до 50 скан/с (с возможностью расширения до 75 скан/с), автоматическая система диагностики узлов прибора в режиме on-line, высокоскоростной интерфейс USB 2.0.
  • Лазерный доплеровский виброметр OMETRON VH-1000D. Используется для бесконтактного измерения поверхностных скоростей вибрации. Диапазон напряжений 4В,диапзон частот 0,5 Гц. -22 кГц., динамический диапазон без помех - >90 дБ, задержка распространения 1,1 мс, скоростной диапазон от 0,02 мкм/с – 0,5 м/с.
  • Камера контролируемой среды ETS. Предназначена для проведения исследований на АСМ при заданных условиях окружающей среды, подготовка образцов к исследованиям на РЭМ.  Регулируемая влажность в диапазоне 5…98. Размеры 47Дx 25.5Ш x 22В

Наш адрес

Республика Беларусь,
Гомель, ул. Кирова, 32а
Телефон:+375 (232) 34 17 12;
Факс: +375 (232) 34 17 11
E-mail:mpri@mail.ru

Поиск по сайту

Форма связи